>>35

7.8 Hz、90 nTの磁場(MF)を印加すると、自発的なカルシウム過渡現象の振幅が徐々に減少し、
MFを印加してから40分後には初期振幅の28％に達し、それに伴いカルシウム過渡現象の立ち上がり時間も
徐々に減少することを示します。機械的自発収縮は、ScRフィールドが30分以上適用された後、
カルシウム過渡現象の振幅が初期値の約60％に達すると停止します。ScRのMFの影響は可逆的であり、
20 pT〜100 nTの範囲の磁場の大きさには依存せず、外部DC磁場にも依存しませんでした。 ただし、
その効果は周波数に依存します。記載されている変化は7.6〜8 Hzの範囲でのみ発生しました。
さらに、7.8 Hz、90 nTのMFを1.5時間適用すると、通常状態、低酸素状態、および80 μMの
H2O2によって誘発される酸化ストレス中に、バッファーに放出されるCKの量が減少しました。
我々は、ScRフィールドによって引き起こされるCK放出の減少が、ストレス反応プロセスに
関連しており、保護的な性質を持っていることを示します。