【技術】試料を動かさず精度20倍でスキャン。理研が走査型Ｘ線顕微鏡の新技術 [すらいむ★]

試料を動かさず精度20倍でスキャン。理研が走査型Ｘ線顕微鏡の新技術

　理化学研究所の山田純平基礎科学特別研究員らと名古屋大学、大阪大学の共同研究グループは、走査型Ｘ線顕微鏡用の新しい高精度スキャン技術「Ｘ線ナノプローブスキャナー」を開発した。
　試料を動かさずにスキャンでき、スキャン精度は原子数個分に相当する１ナノメートル（ナノは１０億分の１）程度と従来手法の１０―２０倍を実現した。
　ナノ分解能のＸ線顕微鏡観察や、Ｘ線分光分析の高度化への寄与が期待される。

（以下略、続きはソースでご確認下さい）

ニュースイッチ　2021年08月13日
https://newswitch.jp/p/28344

そうナノは許さん

これは顕微鏡そのものよりもX線露光装置で化ける技術　ASMLにパテント売りつけろ

ところで、走査精度は分かったが、ビーム径とDwell timeはいかほどで？

でも理研でしょう？

日本が世界最先端最高文明国家だからね(笑)

キーエンスの商品になるのかな？