【ハードウェア】USBメモリの耐久性をテストした結果とは？ [すらいむ★]

USBメモリの耐久性をテストした結果とは？

　小型で携帯可能なUSBメモリは、データの書き込みや消去に伴い次第に劣化していきます。
　一般的なUSBメモリがどれほどの書き込みに耐えられるのかを知るべく、エンジニアのゴフ・ルイ氏は3つのUSBメモリを用いて耐久性のテストを行いました。

　Experiment: 8Gb USB Flash Drive Endurance Test | Gough's Tech Zone
　https://goughlui.com/2017/05/30/experiment-8gb-usb-flash-drive-endurance-test/

　ルイ氏が用意したUSBメモリは「Comsol UF4-8000(8GB)」「Sandisk Cruzer Facet(8GB)」「Verbatim Store’n’Go PinStripe(8GB)」の3つ。
　USB2.0ポートに接続し、4GB以上のファイルの書き込みを行うためにexFATでフォーマット。
　その後ソフトウェアのCygwinを用いて継続的に書き込みを行いながら、コマンド「while :; do dd if=/dev/random of=/cygdrive/X/rawout.raw bs=8M &>> stress.log; sleep 5; done」でログを記録しました。

（以下略、続きはソースでご確認下さい）

Gigazine 2021年09月04日 23時46分
https://gigazine.net/news/20210904-usb-flash-drive-endurance-test/

壊れるまで632サイクルかー
解説によれば実用上は問題ないみたいだけど、数値だけ見ると恐ろしく頼りないな…

これ過度なリードライト繰り返しで冷却が間に合わなくてぶっ飛んだだけでは