【宇宙】ブラックホールが「げっぷ」をする現象、その正体が見えてきた [すらいむ★]

ブラックホールが「げっぷ」をする現象、その正体が見えてきた
超大質量ブラックホールが星を引き裂く「潮汐破壊現象」の数年後に、突如として電波が放射される謎の「げっぷ」のような現象。そのメカニズムが、最新の観測データの解析によって解き明かされつつある。

　近くにある物質や光を“飲み込む”極めて高密度な天体であるブラックホール。
　そのなかでも太陽の数十万倍から数十億倍の質量をもつ超大質量ブラックホールは、ほとんどの銀河の中心に存在すると考えられている。

　宇宙空間を漂う星が超大質量ブラックホールに接近しすぎると、星は巨大な重力によってスパゲッティのように細長い形に引き裂かれる。
　この現象は「潮汐破壊現象（TDE）」と呼ばれ、引き裂かれた星の残骸がブラックホールの周囲にフリスビー状の「降着円盤」と呼ばれる構造をつくると考えられている。

（以下略、続きはソースでご確認ください）

Wired 2026.07.08
https://wired.jp/article/black-hole-radio-burp-tidal-disruption/

仮にもブラックホールなら、光の速さでケツからうんこ出すくらいはしろよ

ブラックホールってなんですか

ゲップしておならして排泄もしたり

洗面台の栓抜くとゴエエエェェェッッッって鳴く現象

超大質量ブラックホールが星を引き裂く「潮汐破壊現象」の数年後に、突如として電波が放射される謎の「げっぷ」のような現象。そのメカニズムが、最新の観測データの解析によって解き明かされつつある。

>>6が判明してきたのならブラックホール解明できる

>>1も下記と同じ現象では倍のか

【解説/宇宙論】ダークマターは、別の宇宙から来たブラックホールでできているのかもしれない [すらいむ★]
2026/07/07(火) 21:47:03.06
https://egg.5ch.io/test/read.cgi/scienceplus/1783428423/

>>1も下記で製造した観測機器を使用すればカメラで撮影できるのではないのか

産総研、EUV露光用ミラーの形状を2nm精度で測定できる装置を開発
掲載日  2026/07/08 15:00
https://news.mynavi.jp/techplus/article/20260708-4677439/
・産総研が曲面ミラーの絶対形状を非接触で2nm精度に測定できる装置を開発・自己校正型ロータリーエンコーダー「SelfA」を導入し、広範囲かつ高精度な局所角度測定を実現・EUV露光装置や放射光施設などで用いられる超高精度光学素子の製造・評価への応用を見込む
★産業技術総合研究所(産総研)は7月6日、EUV露光装置や放射光施設、天体望遠鏡、重力波検出装置などで用いられる曲面光学素子の絶対形状を、非接触かつ高精度に測定できる新たな形状測定装置を開発したことを発表した。
今回、産総研が開発した装置は、曲面上の各位置における表面の傾き、すなわち局所角度を測定し、その分布を積分することで絶対形状を求める方式を採用したものとなる。
従来型のSDPでは、オートコリメーターと呼ばれる微小角度測定装置を用いて反射光角度を直接測定していたため、測定可能な角度範囲に制約があった。曲面では測定位置によって表面角度が大きく変化するため、反射光角度の変化も大きくなり、オートコリメーターの測定範囲を超えてしまうため、従来型SDPを曲面へ適用することは困難だったという。
SelfAで広範囲・高精度の角度測定を実現
そこで、今回の研究では、反射光の大きな角度変化を直接測るのではなく、反射光が常に入射光と平行に戻るように測定対象を回転させ、その回転角度を測定する方式を採用したとする。
装置は、反射光と入射光の角度ずれを検出する光角度検出ユニット、光を測定対象上で走査するペンタミラーと直動ステージ、測定対象を回転させる回転ステージで構成。回転ステージには、自己校正型ロータリーエンコーダー「SelfA」を導入した。
今回開発された測定装置の写真と、上から見た機構の模式図 (出所:産総研)
SelfAは、装置自身で角度目盛りの誤差を補正できる高精度な角度測定装置であり、角度標準器としても用いられる。測定では、ペンタミラーと直動ステージで光の照射位置を走査し、各位置で反射光が入射光と平行になるまで測定対象を回転させる。このときSelfAが示す回転角が、その位置の表面局所角度に対応する。
さらに、レーザー干渉計でペンタミラーの変位を高精度に測定し、得られた局所角度分布を積分することで、曲面ミラーの絶対形状を算出する。反射光が入射光とほぼ同じ光路を戻るため、光学素子の収差による影響も抑えられるという。
★開発した装置の性能確認として、曲率半径5mの円筒面を持つ光学素子の測定を実施。測定長さは90mmで、測定範囲内における表面角度の変化は約1°に達する。これは従来型SDPでは対応できない角度範囲である。
測定の結果、10回の繰り返し測定による形状のばらつきは標準偏差で0.46nmとなり、1nm未満で安定した測定が可能であることが確認されたほか、繰り返し測定のばらつきに加え、角度測定、変位測定、測定対象の位置決めなどの要因見積もりの結果、Peak-to-Valley値で見た絶対形状測定の不確かさは2.0nmとなったという。
10回の測定結果を平均して得られた形状測定結果と、各測定結果の平均形状からの偏差 (出所:産総研)
産総研では、この結果を踏まえ、曲面光学素子の絶対形状を世界最高クラスの精度で測定できることを実現したとしている。
EUV露光装置や放射光施設向け光学素子の高度化へ
今回開発された曲面用SDPは、EUV露光装置や放射光施設などで使われる高精度ミラーの製造、開発、評価を支える基盤技術としての活用が期待される。
EUV露光装置では、光学系の精度が半導体微細加工の限界に直結し、露光波面のわずかな乱れがパターン形成精度に影響を及ぼすこととなるため、ミラーを含む光学素子の形状を高精度に把握し、設計形状へ近づける加工・評価技術が重要となる。
また、放射光施設やX線光学系、天体望遠鏡、重力波検出装置などでも、高精度な曲面ミラーは性能を左右する中核部品となる。今回の技術は、こうした大型・高精度光学素子の絶対形状を非接触で評価できるため、先端光学系の高度化に寄与する可能性がある。
産総研では今後、今回開発した曲面用SDPを用いて、曲面ミラーの絶対形状測定技術のさらなる高度化を進める予定とするほか、曲面ミラーの絶対形状測定サービスの提供や共同研究を通じて、社会実装を進めるとしている。